普發氦質譜檢漏儀

NanoMagnetics 原子力顯微鏡技術規格
• 商用自由對準懸臂
• 掃描范圍 120 x 120 x 40 μm 或 40 x 40 x 4 μm  ( XYZ )
• 噪聲基底 65 fm √Hz
• 分辨率 2μm 集成光學顯微鏡
• 在  120 μm x 120 μm 掃描范圍時 Z 軸分辨率 <0.2 nm
• 在 40 nm x 40 μm 掃描范圍時 Z軸分辨率< 0.02 nm
• 全高清攝像機, 390x230μm, 2,516x1,960 pixels, 30fps,
• 24位 ADCs/DACs
• 數字反饋 FPGA/DSP
• 免費軟件升級
• 無線用戶許可
• USB 接口
• 樣品尺寸 10 x 10 x 5mm ( 可配置為不限制樣品尺寸 )
• 掃描模式: 間歇性接觸, 相位成像 / 相位對比, 接觸模式 / 靜力, 橫向力顯微鏡 ( LFM )磁力顯微鏡 ( MFM ) , 靜電力顯微鏡 ( EFM ), 壓電響應力顯微鏡 ( PRFM) , 開爾文探針力顯微鏡 ( KPFM ), 力調制, 導電AFM ( c-AFM ), 掃描擴散電阻顯微鏡 ( SSRM, 多光譜模式, 光刻和操作模式, 液體模式

擴展成像選項
• Scratching Lithography
• Scanning Tunneling Microscopy (ezSTM)
• Liquid Cell

配件
• Signal Access Module
• 40 mm stroke XY motorized sample positioner
• 2 mm stroke XY manual sample positioner

ezAFM 橫向分辨率

120 μm x 120 μm scanner

40 μm x 40 μm scanner

Intermittent Contact Mode Typical Resolution ²

< 16 nm

< 5 nm

Contact Mode Typical Resolution ³

< 16 nm

< 5 nm

Lateral Force Model Typical Resolution ⁴

< 16 nm

< 5 nm

MFM Mode Typical Resolution ⁵

< 25 nm

< 25 nm